VIP会員
製品の詳細
LiteScope™独自の走査プローブ顕微鏡（SPM）、各種走査電子顕微鏡（SEM)を開きます。コンプリメンタリSPMとSEM技術の結合（CPEM）表面形態、機械的性質、電気的性質、化学成分、磁気的性質などの特徴を含む複雑なサンプル分析を行うことができる。フォーカスイオンビーム（FIB）又はガス注入システム(GIS）ナノメートル用/微細構造の製造及び表面改質は、組立構造の迅速かつ簡単な3Dチェックします。同時に、SPMとSEM
オンライン照会
-
連絡する
-
単位
-
電話番号
-
Eメール
-
ウィーチャット
-
認証コード
-
メッセージの内容
-